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原标题：中钨优品|精密纯钨探针：半导体测试探针
精密纯钨探针采用优质纯钨（99.95-99.98%）为原料经过精深工艺加工而成，具有高精度、高强度、良好的耐磨和耐腐蚀性、较为优良的弹性模量、高光洁度（锥部光洁度Ra0.25以下）、使用寿命较长等特点。
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精密纯钨探针的针尖最小控制在0.08微米（80纳米），主要用于半导体行业，即用于探针卡、探针台等实现晶圆测试和芯片测试等。
精密纯钨探针
半导体测试探针用钨针
钨探针主要用于半导体的最终测试阶段。用来连接芯片和测试板的钨探针是影响接触和电气特性的一个重要因素。通俗来说，探测钨针的存在是为了识别良品和不良品。
钨针通常被安装在探针卡或探针台上。它被制成具有精细的尖端形状。这是为了让它在与芯片接触时不对芯片电极本身造成损伤。
半导体测试针用钨针
半导体测试探针要求材料具有高纯度和高精度，可以是采用铼钨合金打造而成的合金探针，也可以是采用纯钨打造的纯钨探针。
其中，铼钨合金的接触电阻比钨稍高而抗疲劳性相似。相对于纯钨来说，铼钨合金的晶格结构更加紧密，因此铼钨探针顶端的平面更加光滑。这意味着铼钨探针的顶端被污染的可能性更小，更容易清洁，其接触电阻也比钨更加稳定。
半导体测试针用钨针
当然了，在半导体测试中，探针的其他参数也会影响到测试结果，如针尖的直径与形状、触点压力以及探针台的平整度，等等。因此钨探针也经常采用高纯钨打造而成，且具有超细针尖，表面光滑无伤，光洁度能达到Ra0.25以上。
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